バーンインソケットは導通を維持した状態（電源ON状態）で加速試験を行うときに利用するICソケットの一種です。ICソケットは文字通りICに使うソケットで、挿入側はメスでプリント基板に差し込む側はオスになっています。ICソケットはプリント基板に実装してICを電子回路内に組み込むときに利用する電子部品ですが、半導体製造のときにテストや検査などで利用するカスタムソケットもICソケットの一種です。加速度試験は、半導体デバイスの初期不良を見つける目的で実施されるもので、通常125度の高温環境下で数時間程度、試験対象になる半導体の電源をON状態で放置し、加速試験やストレステストを実施します。

意図的に初期不良を起こせば半導体デバイス市場で不良品を排除して出荷させることができるので、不具合発生率の低減に効果的です。バーンインテストは半導体デバイスの中でも車載機器のように信頼性が重要視されるもので行われることが多いのですが、メモリや高出力系など製造工程での歩留まりが良くないものについて良品率を高める目的で実施されるといいます。ICソケットは実装して電子回路にICを組み込む目的で使われるものですが、バーンインソケットのように製品の不良率を下げる目的で使用されるものがあることを覚えておくと良いでしょう。他にも、検査で使用されるテストソケットなどもありますが、いずれもいろいろな形状およびピン数のICに対して行われるものなどから、これらはカスタムソケットとも呼びます。